测量"不可测量"之物：用于超柔软硅胶部件的高速CT技术

在软触感硅胶部件领域——例如医疗阀门、波纹管或精密密封件——传统计量技术已触及物理极限。这些材料极其敏感，测量行为本身就可能改变测量结果。

接触式与光学系统的缺陷

若您正在使用低固化硬度的硅胶，可能会遇到以下三个障碍：

1. 接触变形：触针即使采用最低触发力，也会物理性地位移硅胶表面。这导致“测量结果不可靠”，因为测量工具正在变形它试图测量的特征。

2. 光学缺陷：许多硅胶类型要么呈半透明状，要么漆黑如墨，要么具有高反射性。光学系统和激光扫描仪常因光线穿透或散射问题而难以应对，这迫使人们使用会污染零件的粘稠显影剂或喷雾剂。

3. 处理敏感性：仅仅将一个精细的硅胶部件拾取并放置在夹具上，就可能导致其下垂或拉伸，在测量尚未开始时就已丧失其标称形状。

COREX：非接触式、非光学式、无损检测

COREX通过采用密度成像技术解决了这些难题。由于X射线穿透材料时依据的是其原子密度而非表面特性：

• 零变形：全程不存在任何物理接触。工件始终保持其自然状态。

• 表面无差别：无论硅胶是透明、哑光还是亮面，COREX都能清晰"感知"其密度，每次都能实现完美的3D重建。

• 通过包装进行测量：COREX最强大的功能之一，是能够在组件处于泡罩包装内或预装在其他部件上的状态下进行测量。这消除了操作失误，并确保零件在其最终功能环境中接受检测。